[[TEF/テスト技法]]

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*技法名 タイミングテスト [#jf266108]
*技法名(英語) timing testing [#v3213d8d]
*説明 [#r397c949]
この技法は、バグが発生しそうなきわどいタイミングを狙ったテストのことです。

特に、組込み系では、

-電源が不安定な状態(自動車のエンジン起動中など)
-割り込みが重なる状況
-システム停止中の割り込み
-エラー処理中の割り込み

といった、バグが発生しやすい(設計エラーを起こしやすい)状況が存在します。

過去の不具合解析を実施し、失敗しやすい場所についての情報を蓄積し、そのタイミングを狙ったテストをすることが効果的です。

また、タイミングを狙う代わりに、高負荷状態にしておき、発生確率を上げる方法をとる場合もあります。

*使用例 [#j18018d7]

-自動車のエンジンをかけた直後にCDのイジェクトを試す。
-エラー処理中に、入力イベントを重ねて送る
-高負荷状態を作り出しておいて、機能テストを何度か実施する

*補足 [#ha53fd4e]

バッティングするリソースに着目することで、タイミングが狙いやすくなる場合があります。

*参考文献 [#s7b6c0d6]

書籍: ソフトウェアテストの基礎

total &counter(total); today &counter(today); yesterday &counter(yesterday);
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