[[TEF/関連技法]]

#contents(fromhere=true)

*技法名　探針 [#z5d27bb0]

*技法名（英語：）　Quality Probe [#p624d967]

*概要 [#c555ec5c]
#include([[TEF/関連技法/概要/探針]],notitle)

*説明 [#wd20dac6]
学会等で日立製作所から発表され、普及してきているソフトウェアテストの手法。デバッグや実際の評価テストの前にサンプリング的なテストを行う。そこでのバグ発見率を元に、実際の評価テストでの総バグ数を類推する。

探針でのテスト項目は、本来のテストの10%〜20%。そこでの不良率を元に、上限/下限の総バグ数を求める。

*使用例 [#l953931e]

*補足 [#qd98b634]

*参考文献 [#d2d69bf3]
高品質ソフトウエア ソフトウエア品質管理概論　（細部確認してない）

[[探針テストのTIPS:http://hayst.com/qptest.aspx]]

*ウィキペディア／Wikipediaでの有無 [#qf0851b9]
//ありの場合は、[[WikiPedia.ja:○○○]]／[[WikiPedia:*****]]　で記載
　／
(ウィキペディアで”探針”があるが、特性測定のための検出器=プローブの説明のみである。)

*ご意見 [#c1e3256c]
#comment


total &counter(total); today &counter(today); yesterday &counter(yesterday);
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